镇江透射电子显微镜检定规程

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透射电子显微镜(TEM)是一种重要的分析仪器,用于研究材料的微观结构。由于TEM在材料科学和纳米技术领域的重要性,因此需要对其进行定期检定以确保其准确性和可靠性。本文将介绍TEM检定的基本原理和步骤。

一、TEM检定原理

TEM检定原理基于样品的光学性质。当电子束射入样品时,样品中的原子会受到激发并向外发射电子。这些电子被探测器收集,并用于确定TEM图像。通过对比标准样品和未知样品的TEM图像,可以确定未知样品的结构。

二、TEM检定步骤

TEM检定步骤包括以下几个方面:

1. 准备标准样品:标准样品应该是已知结构且纯的晶体。TEM图像中的结构应该与标准样品中的结构匹配。

2. 准备未知样品:未知样品应该是待检定的材料。

3. 校准仪器:校准仪器以确保仪器准确测量电子束。

4. 选择电子源:根据需要选择电子源,以获得最佳分析结果。

5. 设置TEM仪:设置TEM仪包括选择正确的电压和磁铁,以及选择正确的样品架和探测器。

6. 进行TEM分析:将待检样品放置在样品架上,并将TEM仪设置为所需参数。然后,开始进行TEM分析。

7. 分析TEM图像:使用图像处理软件分析TEM图像。在分析过程中,应该使用标准样品图像进行比较,以确定未知样品的结构。

8. 重复步骤:根据需要重复步骤,以获得更准确的结果。

三、TEM检定结果的记录和报告

TEM检定结果应该被记录在报告书中,包括以下信息:

1. 样品的名称和数量

2. 仪器设置和参数

3. TEM图像

4. 比较标准样品和未知样品的TEM图像

5. 分析结果

6. 重复步骤的数量和结果

四、结论

TEM检定是一种重要的分析技术,可以确定材料的微观结构。TEM检定的基本原理是基于样品的光学性质,通过比较标准样品和未知样品的TEM图像来确定未知样品的结构。TEM检定步骤包括准备标准样品、准备未知样品、校准仪器、选择电子源、设置TEM仪、进行TEM分析、分析TEM图像和重复步骤。TEM检定结果应该被记录在报告书中,以供日后参考。

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